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重慶交通大學2016年全國碩士研究生招生考試

《數(shù)字電路技術(shù)基礎》考試大綱

一、考試總體要求：

1、數(shù)字邏輯基礎

數(shù)制與碼、邏輯門與邏輯功能、邏輯代數(shù)的基本定律和規(guī)則、邏輯函數(shù)的表示方式及相互關系、邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡法、邏輯函數(shù)與邏輯圖。

2、門電路

TTL門電路和特殊門電路、MOS門電路。

3、組合邏輯電路

組合邏輯電路特點；小規(guī)模組合邏輯電路的分析與設計；常用的中規(guī)模集成電路（譯碼器、編碼器、數(shù)據(jù)選擇器、數(shù)值比較器）的原理、分析及應用設計；．算術(shù)運算電路及奇偶校驗電路的分析與設計；競爭-冒險的概念及判斷。

4、時序邏輯電路

時序邏輯電路特點；觸發(fā)器的原理及分析；由觸發(fā)器構(gòu)成的時序邏輯電路的分析與設計；常用的中規(guī)模集成電路（寄存器、計數(shù)器）的原理、分析及應用設計；順序脈沖發(fā)生器的原理、分析及設計。

5、脈沖信號的產(chǎn)生與整形

單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器、多諧振蕩器和施密特觸發(fā)器的工作原理和主要參數(shù)的分析方法及應用；定時器工作原理及應用。

6、數(shù)模、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路

D/A轉(zhuǎn)換器、A/D轉(zhuǎn)換器的分類、基本工作原理；D/A轉(zhuǎn)換器的典型電路及主要性能指標；A/D轉(zhuǎn)換器的典型電路、轉(zhuǎn)換的步驟及主要性能指標。

7、半導體存儲器

ROM、RAM的電路結(jié)構(gòu)、工作原理和擴展存儲容量的方法。

二、考試形式與試卷結(jié)構(gòu)

（一）考試形式

考試形式為筆試，考試時間為3小時，滿分為150分。

（二）試卷結(jié)構(gòu)

1.填空題（10分）

2．選擇題（20分）

3.化簡與簡答題（10分）

4.作圖題（10分）

5.分析題（30分）

6.設計題（30分）

7.綜合分析題（40分）

三、主要參考書目

1、閻石，數(shù)字電子技術(shù)基礎（第5版），高等教育出版社，2006.