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一、考試科目:實(shí)變函數(shù)
二、考試參考書目:<<實(shí)變函數(shù)與泛函分析概要>>(第三版)第一冊(cè),高等教育出版社,2005.04。作者:鄭維行、王聲望編,
三、考試采用筆試方式,考試時(shí)間為120分鐘,試卷滿分為100分。
四、試卷結(jié)構(gòu)與分?jǐn)?shù)比重:
試卷共分為三部分:填空題、選擇題、計(jì)算與簡(jiǎn)證明題
五、考查的知識(shí)范圍與要求:
(一)、集合及其運(yùn)算
考查內(nèi)容
1.集合及其運(yùn)算;
2.映射.集的對(duì)等.可列集;
3.一維開集、閉集及其性質(zhì);
4.開集的構(gòu)造;
5.n維歐幾得空間大意;
6.集的勢(shì)。
考查要求
1.理解集合、映射、集的對(duì)等、可列集及連續(xù)集等概念;
2.會(huì)進(jìn)行集合的運(yùn)算,并掌握可列集的常用性質(zhì);
3.掌握一維開集、閉集性質(zhì)和結(jié)構(gòu);
4.理解n維歐氏空間開集和閉集的結(jié)構(gòu)和點(diǎn)集的距離,會(huì)用分離性定理;
5.理解勢(shì)的概念,會(huì)簡(jiǎn)單應(yīng)用伯恩斯坦定理;
6.握康脫集的構(gòu)造和簡(jiǎn)單性質(zhì)。
(二)、勒貝格測(cè)度
考查內(nèi)容
1.有界集的內(nèi)、外測(cè)度、可測(cè)集;
2.可測(cè)集的性質(zhì);
3.無界可測(cè)集與多維可測(cè)集的概念;
4.環(huán)上定義的測(cè)度。
考查要求
1.掌握有界開集、閉集測(cè)度的定義和有界集內(nèi)、外測(cè)度的概念及有界集內(nèi)外測(cè)度的簡(jiǎn)單性質(zhì);
2.掌握有界可測(cè)集定義,理解無界可測(cè)集的概念;
3.掌握可測(cè)集的基本性質(zhì),會(huì)使用這些性質(zhì);
4.理解多維點(diǎn)集測(cè)度的概念,了解不可測(cè)集的存在性;
5.了解環(huán)上定義的測(cè)度。
(三)、可測(cè)函數(shù)
考查內(nèi)容
1.可測(cè)函數(shù)的基本性質(zhì);
2.可測(cè)函數(shù)列的收斂性;
3.可測(cè)函數(shù)的構(gòu)造.
考查要求
1.理解可測(cè)函數(shù)的概念和它的等價(jià)條件及簡(jiǎn)單函數(shù)的可測(cè)性;
2.理解上下極限、連續(xù)函數(shù)、幾乎處處、近一致收斂、依測(cè)度收斂等概念;
3.理解簡(jiǎn)單函數(shù)與可測(cè)函數(shù)間的關(guān)系,掌握可測(cè)函數(shù)的基本性質(zhì);
4.掌握可測(cè)函數(shù)列的幾種收斂的性質(zhì)和它們的運(yùn)算性質(zhì)及可測(cè)函數(shù)與可測(cè)函數(shù)列的關(guān)系;
5.理解葉果洛夫定理、里斯定理、魯津定理并會(huì)應(yīng)用它們;
6.掌握直線上有界可測(cè)集上的可測(cè)函數(shù)與直線上連續(xù)函數(shù)的關(guān)系。
(四)、積分理論
考查內(nèi)容
1.勒貝格積分概念;
2.積分的性質(zhì);
3.積分序列的極限;
4.R積分與L積分的比較;
5.微分與積分。
考查要求
1.理解簡(jiǎn)單函數(shù)的Lebesgue積分、一般可測(cè)函數(shù)的Lebesgue積分及無界集上的Lebesgue積分的概念;
2.掌握Lebesgue積分的基本性質(zhì)并會(huì)應(yīng)用基本性質(zhì)計(jì)算;
3.理解Lebesgue積分的三大定理(法杜引理、勒維引理及Lebesgue控制收斂定理),會(huì)應(yīng)用Lebesgue積分的三大定理證明和計(jì)算;
4.理解Lebesgue積分與黎曼積分的區(qū)別與聯(lián)系.
5.理解囿變函數(shù)的概念和它可表示兩個(gè)單調(diào)函數(shù)差的充要條件;
6.理解上絕對(duì)連續(xù)函數(shù)的概念和它的充要條件。
(五)、函數(shù)空間
考查內(nèi)容
1.空間.完備性;
2.空間的可分性.
考查要求
1.理解空間的概念和它的完備性;
2.了解空間的可分性.
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