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617 晶體光學(xué)考試大綱

一、考試性質(zhì)與范圍

《晶體光學(xué)》是地質(zhì)學(xué)專(zhuān)業(yè)碩士研究生的入學(xué)專(zhuān)業(yè)基礎(chǔ)考試課程。主要考查學(xué)生對(duì)《晶體光學(xué)》基本概念和基本原理的掌握，以及是否具備運(yùn)用偏光顯微鏡，在單偏光系統(tǒng)、正交偏光系統(tǒng)和錐光(聚斂偏光)系統(tǒng)下觀察和鑒定透明礦物晶體光學(xué)性質(zhì)的基本能力�？荚嚪秶�包括晶體光學(xué)基礎(chǔ)、光率體和光性方位、偏光顯微鏡原理與調(diào)節(jié)，以及單偏光、正交偏光和錐光(聚斂偏光)系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)與測(cè)定方法。

二、考試基本要求

考試題目類(lèi)型因年而異，包括名詞解釋、選擇、填空、判斷正誤、公式推導(dǎo)、作圖、簡(jiǎn)答和分析論述等不同形式。

考生需要攜帶鉛筆、橡皮、直尺、圓規(guī)和量角器。

三、考試形式與分值

本課程由學(xué)校自行命題，全國(guó)統(tǒng)一考試。采用閉卷筆試形式，考試時(shí)間為180分鐘，滿(mǎn)分為150分。

四、考試內(nèi)容

1. 晶體光學(xué)基礎(chǔ)

(1)光的性質(zhì)與傳播;(2)自然光和偏光;(3)光的折射與全反射;(4)折射率與折射率儀;(5)光的雙折射;(6)一軸晶和二軸晶

2. 光率體和光性方位

(1)光率體;(2)一軸晶光率體;(3)二軸晶光率體;(4)光率體的主要參數(shù);(5)光性方位

3. 偏光顯微鏡原理與調(diào)節(jié)

(1)偏光顯微鏡的構(gòu)造;(2)偏光顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng);(3)偏光顯微鏡的調(diào)節(jié);(4)薄片的制作

4. 單偏光系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)

(1)形態(tài);(2)解理;(3)顏色;(4)多色性;(5)吸收性;(6)邊緣;(7)貝克線(xiàn);(8)糙面;(9)突起

5. 正交偏光系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)

(1)消光現(xiàn)象;(2)消光類(lèi)型與消光角;(3)干涉原理;(4)干涉色;(5)干涉色級(jí)序的確定;(6)補(bǔ)色原理與補(bǔ)色器;(7)延性;(8)雙晶

6. 錐光(聚斂偏光)系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)

(1)錐光(聚斂偏光)系統(tǒng);(2)一軸晶的干涉圖;(3)二軸晶的干涉圖;(4)光性

7. 晶體光學(xué)應(yīng)用

(1)單偏光系統(tǒng)下的性質(zhì)測(cè)定：包括晶形、顏色或多色性、突起與糙面、解理及解理夾角等;

(2)正交偏光系統(tǒng)下的性質(zhì)測(cè)定：包括最高干涉色、最大雙折射率、消光類(lèi)型及消光角、延性符號(hào)、多色性和吸收性公式、異常干涉色等;

(3)錐光(聚斂偏光)系統(tǒng)下的性質(zhì)測(cè)定：包括按干涉圖類(lèi)型確定礦物的軸性、測(cè)定光性符號(hào)、估計(jì)光軸角大小等