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信號(hào)完整性指南：實(shí)時(shí)測(cè)試、測(cè)量與設(shè)計(jì)仿真：REAL TIME TEST AND ..
- 所屬分類(lèi)：
電子通信培..
- 作者：
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- ISBN：9787121105975
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原價(jià)：
￥49.00元
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圖書(shū)簡(jiǎn)介
品牌：圖書(shū)詳情 商品基本信息，請(qǐng)以下列介紹為準(zhǔn) 商品名稱(chēng)： 信號(hào)完整性指南：實(shí)時(shí)測(cè)試、測(cè)量與設(shè)計(jì)仿真：REAL TIME TEST AND 作者： 勞迪(GeoffLawday) 市場(chǎng)價(jià)： 49元 文軒網(wǎng)價(jià)： 39.2元【80折】 ISBN號(hào)： 9787121105975 出版社： 電子工業(yè)出版社 商品類(lèi)型： 圖書(shū)
其他參考信息（以實(shí)物為準(zhǔn)） 裝幀： 開(kāi)本： 語(yǔ)種： 出版時(shí)間：2010-10-01 版次： 頁(yè)數(shù)： 印刷時(shí)間：2010-12-01 印次： 字?jǐn)?shù)：
主編推薦 《信號(hào)完整性指南:實(shí)時(shí)測(cè)試、測(cè)量與設(shè)計(jì)仿真》是高速數(shù)字設(shè)計(jì)中現(xiàn)代信號(hào)完整性測(cè)試與測(cè)量方面極具實(shí)踐價(jià)值的指導(dǎo)手冊(cè)。此領(lǐng)域的三位頂級(jí)專(zhuān)家將指導(dǎo)你對(duì)現(xiàn)代邏輯信號(hào)檢測(cè)和嵌入式系統(tǒng)故障進(jìn)行系統(tǒng)地診斷、觀察、分析和排除�！缎盘�(hào)完整性指南:實(shí)時(shí)測(cè)試、測(cè)量與設(shè)計(jì)仿真》面向電子工程師、信號(hào)完整性工程師和片上設(shè)計(jì)師，作者用簡(jiǎn)單易懂的語(yǔ)言，介紹嵌入式系統(tǒng)從規(guī)格定型到前仿真的整個(gè)生命周期，介紹怎樣使用實(shí)時(shí)測(cè)試與測(cè)量技術(shù)解決當(dāng)今不斷增長(zhǎng)、難于滿(mǎn)足的互操作性和兼容性要求，并配有詳細(xì)的案例分析，使讀者學(xué)會(huì)如何面對(duì)一般設(shè)計(jì)上的挑戰(zhàn)。使用真實(shí)世界的的測(cè)試、測(cè)量技術(shù)系統(tǒng)地餌決信號(hào)完整性問(wèn)題�！缎盘�(hào)完整性指南:實(shí)時(shí)測(cè)試、測(cè)量與設(shè)計(jì)仿真》特色：理解當(dāng)今高速設(shè)計(jì)中出現(xiàn)的復(fù)雜信號(hào)完整性問(wèn)題；學(xué)習(xí)利用眼圖、自兼容性測(cè)試和信號(hào)分析測(cè)量，幫助確定和解決信號(hào)完整性問(wèn)題；回顧當(dāng)今廣泛用于CMOSIO電路中的電氣特性；基于直觀的時(shí)域反射（TDR）技術(shù)，進(jìn)行信號(hào)路徑分析；完成更精確的時(shí)域信號(hào)測(cè)量，并避免探針問(wèn)題和人為影響；使用數(shù)字示波器和邏輯分析儀完成高頻環(huán)境；下的精確測(cè)量；仿真數(shù)字電路和暴露SI問(wèn)題的時(shí)域信號(hào)在無(wú)線(xiàn)應(yīng)用中精確測(cè)量抖動(dòng)和其他射頻參數(shù)。
內(nèi)容簡(jiǎn)介 《信號(hào)完整性指南:實(shí)時(shí)測(cè)試、測(cè)量與設(shè)計(jì)仿真》是高速數(shù)字設(shè)計(jì)中現(xiàn)代信號(hào)完整性測(cè)試和測(cè)量方面全面、權(quán)威、極具實(shí)踐價(jià)值的指導(dǎo)手冊(cè)。此領(lǐng)域的三位頂級(jí)專(zhuān)家將指導(dǎo)你對(duì)現(xiàn)代邏輯信號(hào)檢測(cè)和嵌入式系統(tǒng)故障進(jìn)行系統(tǒng)地診斷、觀察、分析和排除。作者用簡(jiǎn)單易懂的語(yǔ)言，介紹了嵌入式系統(tǒng)從規(guī)格定型到前仿真的整個(gè)生命周期，描述了其中的關(guān)鍵技術(shù)和概念�！缎盘�(hào)完整性指南:實(shí)時(shí)測(cè)試、測(cè)量與設(shè)計(jì)仿真》介紹了怎樣使用實(shí)時(shí)測(cè)試和測(cè)量技術(shù)，解決當(dāng)今不斷增長(zhǎng)、難于滿(mǎn)足的互操作性和兼容性要求，給出詳細(xì)、完整的案例分析，使讀者學(xué)會(huì)如何應(yīng)對(duì)一般設(shè)計(jì)上的挑戰(zhàn)，包括：不增加任何額外費(fèi)用確保接口與正時(shí)間裕度之間的同步操作；計(jì)算總的抖動(dòng)預(yù)算；在高速串行接口設(shè)計(jì)中管理復(fù)雜的折中問(wèn)題�！缎盘�(hào)完整性指南:實(shí)時(shí)測(cè)試、測(cè)量與設(shè)計(jì)仿真》適合作為信號(hào)完整性相關(guān)領(lǐng)域的電子工程師和片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的參考指南，也適合作為信號(hào)完整性相關(guān)專(zhuān)業(yè)方向的研究生教材。
作者簡(jiǎn)介 GeoffLawday，英國(guó)新白金漢大學(xué)泰克測(cè)量實(shí)驗(yàn)室教授，講授信號(hào)完整性工程和高性能總線(xiàn)系統(tǒng)等大學(xué)課程。Davidlreland泰克公司歐洲和亞洲區(qū)域設(shè)計(jì)及制造市場(chǎng)部經(jīng)理，有超過(guò)30年的測(cè)試和測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，發(fā)表了很多高水平信號(hào)完整性論文。GregEdlundIBM全球工程技術(shù)服務(wù)部高級(jí)工程師，參與開(kāi)發(fā)、測(cè)試10多個(gè)高性能計(jì)算平臺(tái)。
目錄 第1章引言 1.1生命周期：開(kāi)發(fā)仿真策略的動(dòng)機(jī) 1.2原型：互連高速數(shù)字信號(hào) 1.3預(yù)加重 1.4實(shí)時(shí)測(cè)試和測(cè)量的必要性 小結(jié)第2章芯片到芯片的時(shí)域特性和仿真 2.1根本原因 2.2CMOS鎖存器 2.3時(shí)序故障 2.4建立和保持限制 2.5芯片定時(shí)的公共時(shí)鐘2.6建立和保持SPICE仿真 2.7定時(shí)預(yù)算 2.8共同時(shí)鐘IO定時(shí) 2.9使用標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載的共同時(shí)鐘10定時(shí)2.10共同時(shí)鐘結(jié)構(gòu)的限制 2.1110電路內(nèi)部 2.12CMOS接收機(jī) 2.13CMOS差分接收機(jī) 2.14引腳電容2.15接收機(jī)的電流電壓特性 2.16CMOS推挽式驅(qū)動(dòng)器 2.17輸出阻抗 2.18輸出上升時(shí)間和下降時(shí)間2.19CMOS電流模驅(qū)動(dòng)器 2.20IO電路的行為建模 2.21CMOS推挽式驅(qū)動(dòng)器的行為模型 2.22行為建模的假設(shè)條件2.23IBIS模型介紹 2.24IBIS標(biāo)題 2.25IBIS引腳列表 2.26IBIS接收機(jī)模型 2.27IBIS驅(qū)動(dòng)器模型2.28行為建模的假設(shè)條件 2.29SPICE模型與IBIS模型的比較 2.3010電路模型的正確性和質(zhì)量 小結(jié) 第3章信號(hào)路徑分析3.1傳輸線(xiàn)環(huán)境 3.2阻抗特性、反射與信號(hào)完整性 3.3反射系數(shù)、阻抗和TDR的概念 3.4觀察真實(shí)世界的電路特性3.5TDR分辨率因子 3.6差分TDR測(cè)量 3.7信號(hào)完整性應(yīng)用的頻域測(cè)量 小結(jié) 第4章DDR2案例研究 4.1從共同的前身演變而來(lái)4.2DDR2信號(hào) 4.3寫(xiě)時(shí)序 4.4讀時(shí)序 4.5對(duì)IO的逐漸認(rèn)識(shí) 4.6片外驅(qū)動(dòng)器 4.7片上終端 4.8上升波形和下降波形4.9互連敏感度分析 4.10導(dǎo)體損耗和介質(zhì)損耗 4.11阻抗容差 4.12引腳到引腳的電容變化 4.13字節(jié)內(nèi)的長(zhǎng)度變化4.14DIMM連接器串?dāng)_ 4.15參考電壓交流噪聲和電阻容差 4.16邊坡降因子 4.17最終讀寫(xiě)時(shí)間預(yù)算 4.18保守源 小結(jié)第5章實(shí)時(shí)測(cè)量：探測(cè) 5.1現(xiàn)代示波器探針剖析 5.2探測(cè)方法 5.3測(cè)量質(zhì)量 5.4定義探針 5.5示波器探針 5.6動(dòng)態(tài)范圍限制5.7先進(jìn)的探測(cè)技術(shù) 5.8邏輯分析儀探測(cè) 小結(jié) 第6章測(cè)試和調(diào)試：示波器和邏輯分析儀 6.1信號(hào)完整性基礎(chǔ) 6.2信號(hào)完整性概念6.3驗(yàn)證工具：示波器 6.4驗(yàn)證工具：邏輯分析儀 6.5模擬和數(shù)字測(cè)量的結(jié)合 6.6眼圖分析 小結(jié) 第7章用信號(hào)源去重構(gòu)實(shí)際信號(hào)7.1觀測(cè)和控制電路行為 7.2激勵(lì)和控制 7.3信號(hào)生成技術(shù) 7.4任意函數(shù)發(fā)生器 7.5任意波形發(fā)生器 7.6邏輯信號(hào)源 小結(jié)第8章信號(hào)分析和一致性 8.1標(biāo)準(zhǔn)的框架 8.2用于一致性測(cè)量的高性能工具 8.3驗(yàn)證和一致性測(cè)量 8.4理解串行結(jié)構(gòu)8.5物理層一致性測(cè)試 8.6測(cè)量光信號(hào) 8.7一致性測(cè)量考慮：分析 8.8測(cè)試串行鏈路 8.9探頭和探測(cè) 8.10軟件工具8.11發(fā)射機(jī)測(cè)量示例 8.12阻抗和鏈路測(cè)量 8.13接收機(jī)測(cè)試帶來(lái)獨(dú)特的挑戰(zhàn) 8.14數(shù)字驗(yàn)證和一致性 8.15多總線(xiàn)系統(tǒng) 小結(jié)第9章PCIExpress案例研究 9.1高速串行接口 9.2敏感度分析 9.3理想驅(qū)動(dòng)器和損耗傳輸線(xiàn) 9.4帶有去加重的差分驅(qū)動(dòng)器9.5卡阻抗容差 9.63D不連續(xù)性 9.7通道階躍響應(yīng) 9.8串?dāng)_機(jī)理 9.9串?dāng)_引起的抖動(dòng) 9.10通道特性9.11敏感度分析結(jié)果 9.12模型與硬件的關(guān)系 小結(jié) 第10章無(wú)線(xiàn)信號(hào) 10.1射頻信號(hào) 10.2頻率測(cè)量10.3實(shí)時(shí)頻譜分析儀概述 10.4實(shí)時(shí)頻譜分析儀是怎樣工作的 10.5應(yīng)用實(shí)時(shí)頻譜分析儀 小結(jié) 術(shù)語(yǔ)表
目錄
品牌：圖書(shū)
| 商品基本信息，請(qǐng)以下列介紹為準(zhǔn) | |
| 商品名稱(chēng)： | 信號(hào)完整性指南：實(shí)時(shí)測(cè)試、測(cè)量與設(shè)計(jì)仿真：REAL TIME TEST AND |
| 作者： | 勞迪(GeoffLawday) |
| 市場(chǎng)價(jià)： | 49元 |
| 文軒網(wǎng)價(jià)： | 39.2元【80折】 |
| ISBN號(hào)： | 9787121105975 |
| 出版社： | 電子工業(yè)出版社 |
| 商品類(lèi)型： | 圖書(shū) |
| 其他參考信息（以實(shí)物為準(zhǔn)） | ||
| 裝幀： | 開(kāi)本： | 語(yǔ)種： |
| 出版時(shí)間：2010-10-01 | 版次： | 頁(yè)數(shù)： |
| 印刷時(shí)間：2010-12-01 | 印次： | 字?jǐn)?shù)： |
| 主編推薦 | |
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| GeoffLawday，英國(guó)新白金漢大學(xué)泰克測(cè)量實(shí)驗(yàn)室教授，講授信號(hào)完整性工程和高性能總線(xiàn)系統(tǒng)等大學(xué)課程。Davidlreland泰克公司歐洲和亞洲區(qū)域設(shè)計(jì)及制造市場(chǎng)部經(jīng)理，有超過(guò)30年的測(cè)試和測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，發(fā)表了很多高水平信號(hào)完整性論文。GregEdlundIBM全球工程技術(shù)服務(wù)部高級(jí)工程師，參與開(kāi)發(fā)、測(cè)試10多個(gè)高性能計(jì)算平臺(tái)。 |
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| 第1章引言 1.1生命周期：開(kāi)發(fā)仿真策略的動(dòng)機(jī) 1.2原型：互連高速數(shù)字信號(hào) 1.3預(yù)加重 1.4實(shí)時(shí)測(cè)試和測(cè)量的必要性 小結(jié)第2章芯片到芯片的時(shí)域特性和仿真 2.1根本原因 2.2CMOS鎖存器 2.3時(shí)序故障 2.4建立和保持限制 2.5芯片定時(shí)的公共時(shí)鐘2.6建立和保持SPICE仿真 2.7定時(shí)預(yù)算 2.8共同時(shí)鐘IO定時(shí) 2.9使用標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載的共同時(shí)鐘10定時(shí)2.10共同時(shí)鐘結(jié)構(gòu)的限制 2.1110電路內(nèi)部 2.12CMOS接收機(jī) 2.13CMOS差分接收機(jī) 2.14引腳電容2.15接收機(jī)的電流電壓特性 2.16CMOS推挽式驅(qū)動(dòng)器 2.17輸出阻抗 2.18輸出上升時(shí)間和下降時(shí)間2.19CMOS電流模驅(qū)動(dòng)器 2.20IO電路的行為建模 2.21CMOS推挽式驅(qū)動(dòng)器的行為模型 2.22行為建模的假設(shè)條件2.23IBIS模型介紹 2.24IBIS標(biāo)題 2.25IBIS引腳列表 2.26IBIS接收機(jī)模型 2.27IBIS驅(qū)動(dòng)器模型2.28行為建模的假設(shè)條件 2.29SPICE模型與IBIS模型的比較 2.3010電路模型的正確性和質(zhì)量 小結(jié) 第3章信號(hào)路徑分析3.1傳輸線(xiàn)環(huán)境 3.2阻抗特性、反射與信號(hào)完整性 3.3反射系數(shù)、阻抗和TDR的概念 3.4觀察真實(shí)世界的電路特性3.5TDR分辨率因子 3.6差分TDR測(cè)量 3.7信號(hào)完整性應(yīng)用的頻域測(cè)量 小結(jié) 第4章DDR2案例研究 4.1從共同的前身演變而來(lái)4.2DDR2信號(hào) 4.3寫(xiě)時(shí)序 4.4讀時(shí)序 4.5對(duì)IO的逐漸認(rèn)識(shí) 4.6片外驅(qū)動(dòng)器 4.7片上終端 4.8上升波形和下降波形4.9互連敏感度分析 4.10導(dǎo)體損耗和介質(zhì)損耗 4.11阻抗容差 4.12引腳到引腳的電容變化 4.13字節(jié)內(nèi)的長(zhǎng)度變化4.14DIMM連接器串?dāng)_ 4.15參考電壓交流噪聲和電阻容差 4.16邊坡降因子 4.17最終讀寫(xiě)時(shí)間預(yù)算 4.18保守源 小結(jié)第5章實(shí)時(shí)測(cè)量：探測(cè) 5.1現(xiàn)代示波器探針剖析 5.2探測(cè)方法 5.3測(cè)量質(zhì)量 5.4定義探針 5.5示波器探針 5.6動(dòng)態(tài)范圍限制5.7先進(jìn)的探測(cè)技術(shù) 5.8邏輯分析儀探測(cè) 小結(jié) 第6章測(cè)試和調(diào)試：示波器和邏輯分析儀 6.1信號(hào)完整性基礎(chǔ) 6.2信號(hào)完整性概念6.3驗(yàn)證工具：示波器 6.4驗(yàn)證工具：邏輯分析儀 6.5模擬和數(shù)字測(cè)量的結(jié)合 6.6眼圖分析 小結(jié) 第7章用信號(hào)源去重構(gòu)實(shí)際信號(hào)7.1觀測(cè)和控制電路行為 7.2激勵(lì)和控制 7.3信號(hào)生成技術(shù) 7.4任意函數(shù)發(fā)生器 7.5任意波形發(fā)生器 7.6邏輯信號(hào)源 小結(jié)第8章信號(hào)分析和一致性 8.1標(biāo)準(zhǔn)的框架 8.2用于一致性測(cè)量的高性能工具 8.3驗(yàn)證和一致性測(cè)量 8.4理解串行結(jié)構(gòu)8.5物理層一致性測(cè)試 8.6測(cè)量光信號(hào) 8.7一致性測(cè)量考慮：分析 8.8測(cè)試串行鏈路 8.9探頭和探測(cè) 8.10軟件工具8.11發(fā)射機(jī)測(cè)量示例 8.12阻抗和鏈路測(cè)量 8.13接收機(jī)測(cè)試帶來(lái)獨(dú)特的挑戰(zhàn) 8.14數(shù)字驗(yàn)證和一致性 8.15多總線(xiàn)系統(tǒng) 小結(jié)第9章PCIExpress案例研究 9.1高速串行接口 9.2敏感度分析 9.3理想驅(qū)動(dòng)器和損耗傳輸線(xiàn) 9.4帶有去加重的差分驅(qū)動(dòng)器9.5卡阻抗容差 9.63D不連續(xù)性 9.7通道階躍響應(yīng) 9.8串?dāng)_機(jī)理 9.9串?dāng)_引起的抖動(dòng) 9.10通道特性9.11敏感度分析結(jié)果 9.12模型與硬件的關(guān)系 小結(jié) 第10章無(wú)線(xiàn)信號(hào) 10.1射頻信號(hào) 10.2頻率測(cè)量10.3實(shí)時(shí)頻譜分析儀概述 10.4實(shí)時(shí)頻譜分析儀是怎樣工作的 10.5應(yīng)用實(shí)時(shí)頻譜分析儀 小結(jié) 術(shù)語(yǔ)表 |
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