《統(tǒng)計(jì)學(xué)》考試大綱

一、基本要求

《統(tǒng)計(jì)學(xué)》考試的目的在于考查考生對統(tǒng)計(jì)學(xué)及其在社會經(jīng)濟(jì)應(yīng)用中所涉及的基本概念、基本理論和基本方法的掌握情況以及分析解決實(shí)際問題的能力。基本要求是：

1.準(zhǔn)確地理解《統(tǒng)計(jì)學(xué)》中的基本概念;

2.準(zhǔn)確地把握《統(tǒng)計(jì)學(xué)》的基本理論;

3.正確理解統(tǒng)計(jì)分析的方法;

4.能夠應(yīng)用《統(tǒng)計(jì)學(xué)》的基本理論和方法解決社會經(jīng)濟(jì)實(shí)際問題;

5.了解統(tǒng)計(jì)學(xué)的發(fā)展趨勢和發(fā)展動態(tài)。

《統(tǒng)計(jì)學(xué)》課程考試對考生的具體要求分為四個層次：

1.識記：能知道有關(guān)的名詞、概念、知識的含義，并能正確認(rèn)識和表述。

2.領(lǐng)會：在識記的基礎(chǔ)上，能全面把握基本概念、基本原理，能掌握有關(guān)概念和原理的區(qū)別與聯(lián)系。

3.簡單應(yīng)用：在領(lǐng)會的基礎(chǔ)上，能用學(xué)過的一兩個知識點(diǎn)分析和解決簡單的問題。

4.綜合應(yīng)用：在簡單應(yīng)用的基礎(chǔ)上，能用學(xué)過的多個知識點(diǎn)，綜合分析和解決較復(fù)雜的問題。

二、考試范圍

1.導(dǎo)論

識記：統(tǒng)計(jì)學(xué)的概念、數(shù)據(jù)類型、總體和樣本概念。

領(lǐng)會：數(shù)據(jù)分類的標(biāo)準(zhǔn)、總體和樣本的區(qū)別、參數(shù)和統(tǒng)計(jì)量的區(qū)別。

2.數(shù)據(jù)的來源

識記：常用的概率抽樣和非概率抽樣方法。

領(lǐng)會：不同抽樣方法適用的條件。

3.數(shù)據(jù)的描述

識記：分類數(shù)據(jù)、順序數(shù)據(jù)和數(shù)值型數(shù)據(jù)的集中趨勢、離散程度的測度、幾種常用圖形的使用和區(qū)別。

應(yīng)用：會計(jì)算分組數(shù)據(jù)和原始數(shù)據(jù)的均值、方差、標(biāo)準(zhǔn)差、離散系數(shù)。

4.參數(shù)估計(jì)

識記：點(diǎn)估計(jì)、區(qū)間估計(jì)概念。

綜合應(yīng)用：一個總體均值和比例的區(qū)間估計(jì);兩個總體參數(shù)的區(qū)間估計(jì);樣本量的計(jì)算。

5、假設(shè)檢驗(yàn)

識記：兩類錯誤、原假設(shè)、臨界值概念。

綜合應(yīng)用：一個總體均值和比例的假設(shè)檢驗(yàn)，包括單側(cè)、雙側(cè)、大樣本、小樣本等情況;兩個總體參數(shù)的檢驗(yàn)。

6.列聯(lián)分析

識記：列聯(lián)分析的用途、卡方計(jì)算、自由度概念。

綜合應(yīng)用：會計(jì)算行百分比、列百分比和總百分比、會用卡方進(jìn)行假設(shè)檢驗(yàn)。

7、方差分析

識記：方差分析原理、自由度、均方和F統(tǒng)計(jì)量計(jì)算。

綜合應(yīng)用：會計(jì)算方差分析表，并做檢驗(yàn)。

8.相關(guān)與回歸

識記：相關(guān)和回歸的概念、回歸的假設(shè)條件、相關(guān)與回歸的區(qū)別。

綜合應(yīng)用：會計(jì)算相關(guān)系數(shù)、回歸系數(shù)，能對回歸方程進(jìn)行各類檢驗(yàn)，并作點(diǎn)預(yù)測。

9.時間序列

識記：時間序列的構(gòu)成、平穩(wěn)時間序列的幾種預(yù)測方法，判斷預(yù)測好壞的標(biāo)準(zhǔn)。

綜合應(yīng)用：能用常用方法對平穩(wěn)時間序列和包含線性趨勢的時間序列進(jìn)行擬合和預(yù)測。

10.指數(shù)

識記：個體指數(shù)、綜合指數(shù)、加權(quán)指數(shù)、拉式指數(shù)、帕氏指數(shù)等概念。

綜合應(yīng)用：會使用指數(shù)因素分析進(jìn)行計(jì)算。