中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢)研究生院碩士研究生復(fù)試考試《晶體光學(xué)及光性礦物學(xué)》考試大綱

試卷結(jié)構(gòu)

論述題 100%

考試內(nèi)容

光的基本性質(zhì) 雙折射 光率體 光性方位 偏光顯微鏡的基本部件及功能 單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì) 正交鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì) 錐偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì) 常見造巖礦物(橄欖石、輝石、角閃石、云母、石英、長(zhǎng)石)的光性特征

考試要求

(1)掌握晶體光學(xué)的基本原理，包括光的基本屬性(電磁波、橫波、可見光波長(zhǎng)范圍、偏振光)、重要光學(xué)現(xiàn)象(折射、雙折射)及相關(guān)概念、均質(zhì)體與非均質(zhì)體、光率體(均質(zhì)體、一軸晶、二軸晶)特征，要素及主要切面、光性方位、色散現(xiàn)象，理解光率體與晶體結(jié)構(gòu)對(duì)稱性的聯(lián)系。

(2)掌握偏光顯微鏡的主要部件和使用方法。

(3)掌握單偏光鏡下可觀測(cè)的晶體光學(xué)性質(zhì)(顏色、多色性、突起、貝克線、解理)，理解突起與折射率的關(guān)系、貝克線的產(chǎn)生原理及其移動(dòng)規(guī)律。

(4)理解正交偏光系統(tǒng)下產(chǎn)生干涉、消光現(xiàn)象和不同級(jí)序干涉色(光程差)的原理，掌握正交鏡下可觀測(cè)的晶體光學(xué)性質(zhì)(干涉色級(jí)序、消光類型、消光角、延性、雙晶)。

(5)理解錐偏光鏡下干涉圖產(chǎn)生的原理(一軸晶垂直O(jiān)A切面波向圖)，掌握一軸晶典型干涉圖(垂直O(jiān)A切面、斜交OA切面、平行OA切面)和二軸晶典型干涉圖(垂直Bxa、垂直O(jiān)A切面、平行OAP切面)特征及相似干涉圖的區(qū)別，掌握通過礦物切面干涉圖確定軸性、光性符號(hào)、二軸晶2V角的常用方法。

(6)掌握常見造巖礦物(橄欖石、斜方輝石、單斜輝石、普通角閃石、黑云母、白云母、堿性長(zhǎng)石、斜長(zhǎng)石、石英)的光性特征，學(xué)會(huì)區(qū)別相似礦物，會(huì)根據(jù)光性方位圖結(jié)合晶體光學(xué)原理解釋礦物光學(xué)性質(zhì)的成因。